Gebrauchsfertige Testobjekte beschleunigen die Charakterisierung von Halbleiterbauelementen erheblich Die SPS5000-Software bietet praktische, gebrauchsfertige Testelemente für verschiedene Arten von Halbleiterbauelementen wie MOSFETs, BJTS, Dioden und Widerstände. Ermöglicht dem Benutzer eine schnelle Messungseinrichtung und Datenerfassung ohne sekundäre Programmierung. Nehmen wir als Beispiel einen MOSFET-Test. Ein üblicher Testprozess sieht folgendermaßen aus: Testvariablen definieren, Testmethoden entwickeln, automatisiert schreiben Testcode -----Ausführung des Tests-----Durchführung der Datenanalyse. Durch die Verwendung von SPS5000 kann der Benutzer den Testvorgang mit den vorinstallierten Testelementen einfach in drei Schritten durchführen. Schritt eins besteht darin, den gebrauchsfertigen Testgegenstand auszuwählen, z. B. Id-Vd. Schritt zwei besteht darin, die Messbedingungen zu konfigurieren. Der letzte Schritt ist das Klicken auf „Ausführen“, um den Test zu starten. Wenn der Test abgeschlossen ist, kann der Benutzer die Daten und Diagramme automatisch erfassen.

Automatisierter Testsequenzmodus zur Durchführung mehrerer Charakterisierungstests Die SPS5000-Software bietet einen flexiblen und hocheffizienten Testmodus, indem sie es dem Benutzer ermöglicht, eine Testsequenz mit mehreren gebrauchsfertigen Testobjekten zu erstellen. Der automatisierte Testsequenzmodus ist wichtig, um mehrere Parameter auf dem Halbleiterbauelement effizient zu erfassen. Zum Beispiel, wenn Sie auswählen Id-Vd-Testobjekt des MOSFET, SPS5000 ruft automatisch andere Testobjekte mit derselben Verkabelungsverbindung auf, wie z. B. Vth, FET Id-Vg. Benutzer können jeweils nur ein Testelement ausführen (z. B. Id-Vd) oder sie zu einer Sequenz für schnelle Tests mit mehreren Parametern kombinieren (Id-Vd -> Vth -> IonIoffslop ->…).

Autoanalyse- und grafische Anzeigefunktionen beschleunigen die Charakterisierungsanalyse Die GUI-basierte Charakterisierungssoftware SPS5000 ermöglicht es dem Benutzer, den Messaufbau schnell durchzuführen und das Ergebnis grafisch anzuzeigen. Es zeigt nicht nur die berechneten und extrahierten Parameter direkt an, sondern bietet auch leistungsstarke Diagrammanalysetools für die weitere Analyse, wie z. B. automatische Skalierung und Linienoperationen (konstante Linie, Tangente und Regressionslinie). Der Benutzer kann die Streifenfunktion auch verwenden, um MOSET-Grenz- oder Sättigungsbereiche im Diagramm zu markieren. Darüber hinaus unterstützt SPS5000 mehrere Y-Achsen-Funktionen. Der Benutzer kann die Datentypen des X-Achsen- und Y-Achsen-, Protokoll- oder Linearskalenformats entsprechend den Analyseanforderungen flexibel konfigurieren.

Automated test sequence mode to fulfill multiple characterization test

The SPS5000 software provides a flexible and high-efficiency testing mode by allowing the user to form a test sequence with multiple ready-to-use test items. Automated test sequence mode is important to efficiently gather multiple parameters on the semiconductor device. For example, when you select
Id-Vd test item of MOSFET, SPS5000 will automatically recall other test items with the same wiring connection, such as Vth, FET Id-Vg. users can execute only one test item at a time (e.g. Id-Vd), or combine them into a sequence for rapid multiple parametric test(Id-Vd ->Vth -> IonIoffslop ->…).

Autoanalyse- und grafische Anzeigefunktionen beschleunigen die Charakterisierungsanalyse Die GUI-basierte Charakterisierungssoftware SPS5000 ermöglicht es dem Benutzer, den Messaufbau schnell durchzuführen und das Ergebnis grafisch anzuzeigen. Es zeigt nicht nur die berechneten und extrahierten Parameter direkt an, sondern bietet auch leistungsstarke Diagrammanalysetools für die weitere Analyse, wie z. B. automatische Skalierung und Linienoperationen (konstante Linie, Tangente und Regressionslinie). Der Benutzer kann die Streifenfunktion auch verwenden, um MOSET-Grenz- oder Sättigungsbereiche im Diagramm zu markieren. Darüber hinaus unterstützt SPS5000 mehrere Y-Achsen-Funktionen. Der Benutzer kann die Datentypen des X-Achsen- und Y-Achsen-, Protokoll- oder Linearskalenformats entsprechend den Analyseanforderungen flexibel konfigurieren.